[发明专利]创建存储器缺陷映射表并使用该映射表优化性能的方法有效
| 申请号： | 200810210500.2 | 申请日： | 2008-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN101369247A | 公开（公告）日： | 2009-02-18 |
| 发明（设计）人： | F·E·诺罗德;J·D·派克;T·L·纽厄尔 | 申请（专利权）人： | 戴尔产品有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周建秋;王凤桐 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了一种用于存储存储器缺陷映射表的方法，其中在制造时对存储组件进行缺陷测试，并且所检测到的任何存储器缺陷均被存储到存储器缺陷映射表中并且被用来优化系统的性能。随着在操作过程中检测到新的存储器缺陷，所述存储器缺陷映射表被更新并且系统的重映射资源被优化。 | ||
| 搜索关键词： | 创建 存储器 缺陷 映射 使用 优化 性能 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于存储存储器缺陷映射表的方法，该方法包括：针对缺陷存储位置来测试存储组件；其中所述测试在制造所述存储组件时被执行；以及将存储器缺陷信息存储在存储器缺陷映射表中。
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