[发明专利]光学系统的评价装置无效

专利信息
申请号: 200810210617.0 申请日: 2005-07-14
公开(公告)号: CN101350205A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: 光山亮;江上晴久;川村贵史;前波克俊 申请(专利权)人: 利达电子株式会社
主分类号: G11B7/22 分类号: G11B7/22;G11B7/09;G01B11/26;G01M11/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 金春实
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供降低了振动灵敏度的光学系统的评价装置。光学系统(1)的光轴评价装置(A)包括具有显示区域的显示器(8)、将光学系统(1)投影到基准面上的像时刻显示于显示区上的投影像捕获装置(3),后者又具有对光学系统投影到基准面上的像进行摄像的光探测器(5)以及将此摄像图像显示于显示区上基准位置处的捕获控制器(7)。捕获控制器(7)包括:接收低倍率摄像图像,相对于光探测器(5)使光学系统(5)能相对调整定位的定位部(70),此定位部(70)可使投影像位于第一探测区上特定区域内;接收高倍率摄像图像,将投影像显示于显示器(8)的显示区的基准位置处,由此来抑制投影像在显示区上摆动的投影像摆动控制部(76)。
搜索关键词: 光学系统 评价 装置
【主权项】:
1.一种光学系统的光轴评价装置,它是对光学系统的光轴进行评价的装置,包括:具有显示区的显示器;将从光学系统投影到基准面上的像经常显示于上述显示区上的基准位置处的投影像捕获装置。
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