[发明专利]X射线敏感性电池隔板以及检测隔板在电池中位置的方法有效

专利信息
申请号: 200810211200.6 申请日: 2008-09-17
公开(公告)号: CN101393018A 公开(公告)日: 2009-03-25
发明(设计)人: 张正铭 申请(专利权)人: 赛尔格有限责任公司
主分类号: G01B15/00 分类号: G01B15/00;H01M10/38;H01M10/40;H01M2/16
代理公司: 北京中安信知识产权代理事务所 代理人: 王立昌
地址: 美国北卡*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本申请涉及用于二次锂电池的X射线敏感性电池隔板以及检测隔板在二次锂电池中位置的方法。X射线敏感性电池隔板包括具有X射线可检测的组分的微孔膜。X射线可检测的组分占微孔膜的不到0.1重量%。检测隔板在电池中位置的方法包括以下步骤:(1)提供包括X射线敏感性电池隔板的电池;(2)使电池经受X射线辐射;和(3)从而检测所述隔板在所述电池中的位置。
搜索关键词: 射线 敏感性 电池 隔板 以及 检测 位置 方法
【主权项】:
1. 检测二次锂电池中隔板相对于电极的位置的方法,包括步骤:提供包括正电极、负电极、位于电极之间的X射线敏感性隔板、以及容纳电极和隔板的壳体的二次锂电池,该X射线敏感性隔板包括具有X射线可检测的组分分散其中的微孔膜,该X射线可检测的组分不超过膜的0.1重量%;使二次锂电池经受X射线辐射;确定隔板相对于电极的位置;和基于隔板相对于电极的位置决定二次锂电池是否合格。
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