[发明专利]X射线敏感性电池隔板以及检测隔板在电池中位置的方法有效
申请号: | 200810211200.6 | 申请日: | 2008-09-17 |
公开(公告)号: | CN101393018A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | 张正铭 | 申请(专利权)人: | 赛尔格有限责任公司 |
主分类号: | G01B15/00 | 分类号: | G01B15/00;H01M10/38;H01M10/40;H01M2/16 |
代理公司: | 北京中安信知识产权代理事务所 | 代理人: | 王立昌 |
地址: | 美国北卡*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及用于二次锂电池的X射线敏感性电池隔板以及检测隔板在二次锂电池中位置的方法。X射线敏感性电池隔板包括具有X射线可检测的组分的微孔膜。X射线可检测的组分占微孔膜的不到0.1重量%。检测隔板在电池中位置的方法包括以下步骤:(1)提供包括X射线敏感性电池隔板的电池;(2)使电池经受X射线辐射;和(3)从而检测所述隔板在所述电池中的位置。 | ||
搜索关键词: | 射线 敏感性 电池 隔板 以及 检测 位置 方法 | ||
【主权项】:
1. 检测二次锂电池中隔板相对于电极的位置的方法,包括步骤:提供包括正电极、负电极、位于电极之间的X射线敏感性隔板、以及容纳电极和隔板的壳体的二次锂电池,该X射线敏感性隔板包括具有X射线可检测的组分分散其中的微孔膜,该X射线可检测的组分不超过膜的0.1重量%;使二次锂电池经受X射线辐射;确定隔板相对于电极的位置;和基于隔板相对于电极的位置决定二次锂电池是否合格。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赛尔格有限责任公司,未经赛尔格有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810211200.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件及其制造方法和半导体基板
- 下一篇:清洗基片的方法与装置