[发明专利]用于在物体表面上进行非接触坐标测量的方法和勘测系统

摘要

本发明涉及用于在物体坐标系中在待测物体的物体表面上进行非接触坐标测量的方法和勘测系统。通过3D图像记录单元，在第一位置和第一取向下电子记录物体表面的第一区域部分的第一三维图像，该第一三维图像包括多个第一像素，所述第一像素分别与一项深度信息相关联。使所述3D图像记录单元在图像坐标系中的第一3D图像坐标与所述第一像素相关联。通过结合到所述物体坐标系的测量设备确定所述3D图像记录单元在所述物体坐标系中的第一位置和第一取向。通过已知的所述第一3D图像坐标和所述3D图像记录单元的所述第一位置和第一取向，而使所述物体坐标系中的第一3D物体坐标与所述第一像素相关联。

主权项

1.一种用于在物体坐标系(O)中对于待测物体(1)的物体表面(2)进行非接触坐标测量的方法，其中通过处在第一位置(x₁，y₁，z₁)和第一取向(ω₁，κ₁)下的3D图像记录单元(3)电子记录所述物体表面(2)的第一区域部分(S₁)的第一三维图像(P₁)，所述第一三维图像(P₁)包括多个第一像素(i₁)，所述第一像素分别与一项深度信息相关联，所述3D图像记录单元(3)为特别是在所述图像记录单元(3)的单个壳体内的单个装置，该装置包括用于记录所述第一三维图像(P₁)的元件，使所述3D图像记录单元(3)在图像坐标系(B)中的第一3D图像坐标(u_1i，v_1i，w_1i)与所述第一像素(i₁)相关联，通过结合到所述物体坐标系(O)的测量设备(4a，4b)确定所述3D图像记录单元(3)在所述物体坐标系(O)中的第一位置(x₁，y₁，z₁)和第一取向(ω₁，κ₁)，通过已知的所述第一3D图像坐标(u_1i，v_1i，w_1i)和所述3D图像记录单元(3)的所述第一位置(x₁，y₁，z₁)和第一取向(ω₁，κ₁)，而使所述物体坐标系(O)中的所述第一3D物体坐标(x_1i，y_1i，z_1i)与所述第一像素(i₁)相关联，使所述3D图像记录单元(3)从所述第一位置(x₁，y₁，z₁)和第一取向(ω₁，κ₁)转到至少一个另一位置(x₂，y₂，z₂)和另一取向(ω₂，κ₂)中，通过处于所述另一位置(x₂，y₂，z₂)和另一取向(ω₂，κ₂)下的所述3D图像记录单元(3)电子记录所述物体表面(2)的至少一个另一区域部分(S₂)的至少一个另一三维图像(P₂)，通过所述测量设备(4a，4b)在所述物体坐标系(O)中确定所述3D图像记录单元(3)的所述另一位置(x₂，y₂，z₂)和另一取向(ω₂，κ₂)，以及通过已知的所述另一三维图像(P₂)的所述另一3D图像坐标(u_2i，v_2i，w_2i)和所述3D图像记录单元(3)的所述另一位置(x₂，y₂，z₂)和另一取向(ω₂，κ₂)，而使所述物体坐标系(O)中的另一3D物体坐标(x_2i，y_2i，z_2i)与所述另一三维图像(P₂)的所述另一像素(i₂)相关联。