[发明专利]面向集成电路数模混合测试适配器的模拟布线方法无效

专利信息
申请号: 200810215545.9 申请日: 2008-09-09
公开(公告)号: CN101413964A 公开(公告)日: 2009-04-22
发明(设计)人: 刘炜;石志刚;吉国凡;张琳;王慧;孙博;金兰;赵智昊;李尔;孙杨 申请(专利权)人: 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R1/06;G01R1/18;G01R1/20;G01R31/3167
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 代理人: 陈 曦
地址: 100088北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种面向集成电路数模混合测试适配器的模拟布线方法。该方法利用差分走线方式布置模拟传输信号资源,并基于等长包地原则进行布线,可以有效解决高速并行测试中模拟信号相互干扰与隔离的技术难题,从而有利于实现集成电路测试过程中的信号高速传导,并在此基础上实现互不干扰的并行测试技术,为集成电路测试产业的进一步发展提供了有力的技术支持。
搜索关键词: 面向 集成电路 数模 混合 测试 适配器 模拟 布线 方法
【主权项】:
1. 一种面向集成电路数模混合测试适配器的模拟布线方法,其特征在于:(1)采用差分走线方式布置模拟传输信号资源;(2)为差分信号提供地平面作为回流路径;(3)在差分走线的布线过程中优先匹配线长。
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