[发明专利]紫外线强度荧光差分检测方法与装置无效
| 申请号： | 200810218432.4 | 申请日： | 2008-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN101424569A | 公开（公告）日： | 2009-05-06 |
| 发明（设计）人： | 黄佐华;郑永驹;陈宏林;邓小敏;许曼宜;李灶华 | 申请（专利权）人： | 华南师范大学 |
| 主分类号： | G01J1/18 | 分类号： | G01J1/18 |
| 代理公司： | 广州粤高专利代理有限公司 | 代理人： | 何淑珍 |
| 地址： | 510630广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种紫外线强度荧光差分检测方法与装置，本发明采用两个可见光探测器，其中第一可见光探测器的受光表面涂有一层透明均匀的紫外荧光材料薄层，所述紫外荧光材料在紫外线的照射下发射出可见光波段的荧光，第一可见光探测器产生的电信号反映紫外线产生的荧光与可见光的强度之和，第二可见光探测器产生的电信号反映可见光强度，两路电信号经差分放大后得到反映紫外线强度的电信号，该电信号经AD转换后由单片机换算成紫外线强度。本发明利用紫外荧光和差分原理，能自动消除本底光的影响，测量紫外光精确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 紫外线 强度 荧光 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种紫外线强度荧光差分检测方法，其特征在于采用两个可见光探测器，其中第一可见光探测器的受光表面涂有一层透明均匀的紫外荧光材料薄层，所述紫外荧光材料在紫外线的照射下发射出可见光波段的荧光，第一可见光探测器产生的电信号反映紫外线产生的荧光与可见光的强度之和，第二可见光探测器产生的电信号反映可见光强度，两路电信号经差分放大后得到反映紫外线强度的电信号，该电信号经AD转换后由单片机换算成紫外线强度。
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