[发明专利]一种数字芯片测试方法和测试系统无效
| 申请号： | 200810222256.1 | 申请日： | 2008-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN101369000A | 公开（公告）日： | 2009-02-18 |
| 发明（设计）人： | 张浩 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾惠忠 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种数字芯片的测试方法，包括：接收高频串行测试向量；将所述高频串行测试向量分频为多个低频并行测试向量；依据所述低频并行测试向量形成相应扫描链，获得多个低频并行测试结果；将所述多个低频并行测试结果倍频为高频串行测试结果。本发明采用多条扫描链并行的结构有效缩短了数字芯片的测试时间，减少了数字芯片的测试成本。采用扫描链输入分频和扫描链输出倍频方式既保证了数字芯片在测试过程中不会因扫描功率过大而被毁损，又充分利用了测试台较高的测试频率，有效利用了测试台的测试能力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数字 芯片 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种数字芯片的测试方法，其特征在于，包括：接收高频串行测试向量；将所述高频串行测试向量分频为多个低频并行测试向量；依据所述低频并行测试向量形成相应的扫描链，获得多个低频并行测试结果；将所述多个低频并行测试结果倍频为高频串行测试结果。
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