[发明专利]一种电光调制器线性度测试装置有效
| 申请号： | 200810226744.X | 申请日： | 2008-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN101408477A | 公开（公告）日： | 2009-04-15 |
| 发明（设计）人： | 王学锋;王巍;于海成;高峰;王军龙 | 申请（专利权）人： | 中国航天时代电子公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 | 代理人： | 安 丽 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种电光调制器线性度测试装置，当被测电光调制器为强度调制器时，光源光波送入被测电光调制器，调制信号发生器产生调制信号送入被测电光调制器、第一和第二解调电路，测试信号发生器产生测试信号送入被测电光调制器和第一解调电路，在被测电光调制器内，调制信号使两光波产生调制相位差，测试信号使两光波产生测试相位差，两光波干涉后送入探测器，经光电转换后送至第二解调电路，第一解调电路获取测试信号大小，第二解调电路获取测试相位差；当被测电光调制器为Y波导集成光学器件时，光源光波经调制用电光调制器后送至被测电光调制器，调制信号发生器调制信号送入调制用电光调制器，测试信号发生器测试信号送入被测电光调制器，其余结构不变化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电光 调制器 线性 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种电光调制器线性度测试装置，其特征在于包括：光源(201)、探测器(204)、调制信号发生器(206)、测试信号发生器(208)、第一解调电路(210)、第二解调电路(211)；当被测电光调制器(203)为强度调制器时，光源(201)发出的光波送入被测电光调制器(203)，调制信号发生器(206)产生的调制信号分别送入被测电光调制器(203)、第一解调电路(210)和第二解调电路(211)，测试信号发生器(208)产生的测试信号分别送入被测电光调制器(203)和第一解调电路(210)，在被测电光调制器(203)内，调制信号使两光波之间产生调制相位差，测试信号使两光波之间产生测试相位差，所述两光波发生干涉后送入探测器(204)，经光电转换后送至第二解调电路(211)，第一解调电路(210)用于获取测试信号的大小，第二解调电路(211)用于获取测试相位差；当被测电光调制器(203)为Y波导集成光学器件时，光源(201)发出的光波经调制用电光调制器(202)后送至被测电光调制器(203)，调制信号发生器(206)产生的调制信号分别送入调制用电光调制器(202)、第一解调电路(210)和第二解调电路(211)，测试信号发生器(208)产生的测试信号分别送入被测电光调制器(203)和第一解调电路(210)，在调制用电光调制器(202)内，调制信号使两光波之间产生调制相位差，在被测电光调制器(203)内，测试信号使两光波之间产生测试相位差，两光波干涉后送入探测器(204)，经光电转换后送至第二解调电路(211)，第一解调电路(210)用于获取测试信号的大小，第二解调电路(211)用于获取测试相位差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航天时代电子公司，未经中国航天时代电子公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810226744.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种检测盐酸西布曲明的方法及其应用
- 下一篇：无线燃气表功能测试方法
