[发明专利]一种利用平均电离电流测量α粒子活度的方法及设备无效
| 申请号： | 200810226876.2 | 申请日： | 2008-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN101738629A | 公开（公告）日： | 2010-06-16 |
| 发明（设计）人： | 刘建忠;王希涛;王晓冬;朱万宁;姚晓丽;周彦坤 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01T1/185 | 分类号： | G01T1/185 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所 11311 | 代理人： | 田明;任晓航 |
| 地址： | 030006 *** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量α粒子活度的方法及设备，尤其是公开了一种利用平均电离电流测量α粒子活度的方法及设备。本发明根据α粒子在空气中产生的电离离子对的电离电流与α粒子的活度之间的关系，通过测量出电离电流，进而间接地测量出α粒子的活度。本发明开辟了α探测技术的另一条途径，解决了直接测量时由于α粒子的射程极短而造成难题。其最大优点是对监测对象的表面形状没有严格要求，可以监测凹凸不平或不规则的表面，如各种工具表面，还可以监测小空腔的内表面，如管状或筒状物体的内表面。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 平均 电离 电流 测量 粒子 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种利用平均电离电流测量α粒子活度的方法，其特征在于：所述的方法根据α粒子在空气中产生的电离离子对的电离电流y(fA)与α粒子的活度x(Bq)之间的关系方程y(fA)＝A+Bx(Bq)，通过测量出电离电流，进而间接地测量出α粒子的活度；所述的关系方程中的A和B为常数，通过测量已知活度的α标准源获得。
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