[发明专利]一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置无效
| 申请号： | 200810229879.1 | 申请日： | 2008-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN101750264A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 王卫国;李海洋;董璨;杜永斋 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N27/64 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人： | 马驰;周秀梅 |
| 地址： | 116023 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量大气纳米粒子粒谱的方法，采用离子迁移管，大气以微孔进样，在离子迁移管的漂移区内形成发散性小的离子束，同时在漂移区内施以负压，其压力为0.1-0.5大气压，实现实时测量大气纳米粒子粒谱的目的。本发明采用离子迁移谱，通过设计微进样的分流器，缩短迁移管长度，提高迁移场强，减小带电离子的扩散损失，从而实现对大气纳米粒子粒谱的实时测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 大气 纳米 粒子 方法 专用 装置 | ||
【主权项】：
一种测量大气纳米粒子粒谱的方法，其特征在于：采用离子迁移管，大气以微孔进样，在离子迁移管的漂移区内形成发散性小的离子束，同时在漂移区内施以负压，其压力为0.1-0.5大气压，实现实时测量大气纳米粒子粒谱的目的。
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