[发明专利]利用环腔累积时延法的物理量测试装置无效
| 申请号： | 200810232231.X | 申请日： | 2008-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN101762461A | 公开（公告）日： | 2010-06-30 |
| 发明（设计）人： | 杜兵 | 申请（专利权）人： | 西安金和光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01B11/00 |
| 代理公司： | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人： | 李子安 |
| 地址： | 710075 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及利用环腔累积时延法的物理量测试装置，用于测量样品中的物理量，其特征在于，该装置包括：光源；由反射器件、折射器件以及透射器件之一或混合构成的光环路；至少一个传感器，其具有预定形状并与该光环路同轴，该至少一个该传感器与被测物理量的样品耦合；耦合装置，用于i)将该光源发出的一部分辐射引入到该光环路中，并且ii)接收在该光环路中谐振的该辐射的一部分；检测器，用于检测由该耦合装置接收的每一个该辐射并产生响应于此的信号；与该检测器耦合的处理器，用于根据在该光环路中，该辐射的循环数量和执行该循环数量所耗费的总的时间、来确定该样品中的物理量。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 累积 时延法 物理量 测试 装置 | ||
【主权项】：
利用环腔累积时延法的物理量测试装置，用于测量样品中的物理量，其特征在于，该装置包括：1)光源；2)由反射器件、折射器件以及透射器件之一或混合构成的光环路；3)至少一个传感器，其具有预定形状并与该光环路同轴，该至少一个该传感器与被测物理量的样品耦合；4)耦合装置，用于i)将该光源发出的一部分辐射引入到该光环路中，并且ii)接收在该光环路中谐振的该辐射的一部分；5)检测器，用于检测由该耦合装置接收的每一个该辐射并产生响应于此的信号；6)与该检测器耦合的处理器，用于根据在该光环路中，该辐射的循环数量和执行该循环数量所耗费的总的时间、来确定该样品中的物理量。
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