[发明专利]物质表面性质参数测定方法有效
申请号: | 200810232896.0 | 申请日: | 2008-10-20 |
公开(公告)号: | CN101393238A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | 李航;朱华玲;侯捷;吴劳生 | 申请(专利权)人: | 西南大学 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G01R29/24;G01R19/08;G01R29/12;G01N33/00 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵荣之 |
地址: | 40071*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明提供一种物质表面性质参数的通用测定方法,能在不同条件下对不同类型物质的表面电位进行准确测定,包括如下步骤:对待测物表面进行饱和处理;将经过饱和处理的待测物与指示电解质溶液混合;测定所述混合物的本体溶液中指示电解质阳离子及氢离子的平衡浓度值;根据指示电解质阳离子的平衡浓度值,计算物质表面电位;在进一步的技术方案中,还根据物质表面电位,计算物质比表面积、表面电荷密度,根据物质表面电荷密度,计算物质表面电场强度;根据物质表面电荷密度和比表面积,计算物质表面电荷总量;本发明的方法,是所属技术领域中首次获得的,能广泛适用于不同条件、不同电荷类型物质的表面性质参数的通用测定方法,并可实现联合测定。 | ||
搜索关键词: | 物质 表面 性质 参数 测定 方法 | ||
【主权项】:
1.物质表面性质参数测定方法,其特征在于:包括如下步骤:1)对待测物表面进行饱和处理;2)将经过饱和处理的待测物与含指示电解质的溶液混合,所述指示电解质溶液中包括至少一种二价金属阳离子A2+和一种一价金属阳离子B+;3)待步骤2)所得混合物离子交换平衡后,测定所述混合物的本体溶液中指示电解质阳离子及氢离子的平衡浓度值;4)将步骤3)所得指示电解质阳离子浓度值代入下式进行运算,获得物质表面电位式中,是物质表面电位,R是气体常数,T是温度,F是Faraday常数;cB0是待测体系溶液中B+的初始浓度,它等于所加该离子的摩尔数除以水总体积;cA0是待测体系溶液中A2+的初始浓度,它等于所加该离子的摩尔数除以水总体积。cB∞是交换反应平衡时本体溶液中B+的浓度,cA∞是交换反应平衡时本体溶液中A2+的初始浓度。βA是含“B++A2+”的体系中与A2+水化半径有关的A2+的相对有效电荷系数;βB是含“B++A2+”的体系中与B+水化半径有关的B+的相对有效电荷系数。
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