[发明专利]一种微电子器件恒定加速度试验方法无效
| 申请号： | 200810234883.7 | 申请日： | 2008-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN101408488A | 公开（公告）日： | 2009-04-15 |
| 发明（设计）人： | 朱卫良 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G01M19/00 | 分类号： | G01M19/00 |
| 代理公司： | 无锡盛阳专利商标事务所（普通合伙） | 代理人： | 顾吉云 |
| 地址： | 214028江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种微电子器件恒定加速度试验方法，其可满足器件在测试过程中各个部位受力均匀，从而可解决因额外作用力和受力不均匀而导致器件受损的问题。其特征在于：其包括一个∪型腔体，腔体底部灌注一层均匀的固化方便的材料，在其固化前用受试器件压出一个模，然后使其固化，试验时器件紧贴在这个模中，所述实验过程中固定器件，不让器件产生位移。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微电子 器件 恒定 加速度 试验 方法 | ||
【主权项】：
1、一种微电子器件恒定加速度试验方法，其特征在于：其包括一个U型腔体，腔体底部灌注一层均匀的固化方便的材料，在其固化前用受试器件压出一个模，然后使其固化，试验时器件紧贴在这个模中，所述实验过程中固定器件，不让器件产生位移。
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