[发明专利]一种原位制备自支撑氮化镓衬底的方法无效

专利信息
申请号: 200810235277.7 申请日: 2008-12-03
公开(公告)号: CN101429650A 公开(公告)日: 2009-05-13
发明(设计)人: 修向前;张荣;华雪梅;陆海;谢自力;顾书林;施毅;朱顺明;韩平;胡立群;郑有炓 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/455;H01L21/00
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 代理人: 汤志武;王鹏翔
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 原位制备自支撑氮化镓衬底的方法,采用HVPE生长方式在蓝宝石上生长GaN缓冲层薄膜,反应源材料为金属镓,高纯HCl或三甲基镓或其它有机镓源,载气N2及NH3;生长温度为550-750℃,缓冲层厚度在50nm-1μm;缓冲层生长完成后,关闭HCl气体或三甲基镓气体,在氨气保护下开始升温,升温时间15±4分钟至1000-1100℃生长温度,开始GaN生长直到所需要的厚度;关闭HCl气体,停止生长,在氨气保护下开始降温。降温速率维持在5-20℃/分钟;降温方式温度降至在650-750℃之间时,在该温度区间维持10-30分钟;然后自然降温至室温,即可得到自剥离的自支撑GaN衬底。
搜索关键词: 一种 原位 制备 支撑 氮化 衬底 方法
【主权项】:
1、原位制备自支撑氮化镓衬底的方法,其特征是采用HVPE生长方式在蓝宝石上生长GaN缓冲层薄膜,反应源材料为金属镓,高纯HCl或三甲基镓或其它有机镓源,载气N2及NH3;生长温度为550-750℃,缓冲层厚度在50nm-1μm;缓冲层生长完成后,关闭HCl气体或三甲基镓气体,在氨气保护下开始升温,升温时间15±4分钟至1000-1100℃生长温度,开始GaN生长直到所需要的厚度;关闭HCl气体,停止生长,在氨气保护下开始降温。降温速率维持在5-20℃/分钟;降温方式温度降至在650-750℃之间时,在该温度区间维持10-30分钟;然后自然降温至室温,即可得到自剥离的自支撑GaN衬底。
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