[发明专利]基于VSM磁化曲线的磁纳米粒子粒径表征方法

摘要

本发明提供了一种基于VSM磁化曲线的磁纳米粒子粒径表征方法，涉及纳米测试技术领域。本发明首先利用振动磁强计(VSM)获取磁纳米粒子胶体溶液的磁化曲线，再从中去除水基或者油基的磁化曲线，然后采用正则化的奇异值分解方法求解磁纳米粒子的粒径分布函数。本发明克服了现有技术采用奇异值分解方法所带来的虚假振荡现象，提高了粒径表征精度与稳定性。

主权项

1、基于VSM磁化曲线的磁纳米粒子粒径表征方法，包括以下步骤：(1)利用振动磁强计(VSM)获取磁纳米粒子胶体溶液的磁化曲线MMNP(H)，H为外加励磁磁场；(2)从磁化曲线MMNP(H)中去除水基或者油基的磁化曲线，得到修正磁化曲线M(H)；(3)求解离散粒径点分布函数f(Dj)＝VS-1U′M(Hi)，Dj为对磁纳米粒子直径作离散化处理后得到的离散粒径点，Hi为对外加励磁磁场作离散化处理后得到的磁场离散点，M(Hi)为依据修正磁化曲线M(H)得到的离散点磁化曲线，U′为矩阵U的转置矩阵，U和V均为酉矩阵，S为对角矩阵，矩阵U、V和S是依据预定奇异值ε对矩阵A(i，j)作奇异值分解得到的矩阵，即USV′＝A(i，j)，其中，μ0为真空磁导率，Md为磁纳米粒子的饱和磁矩，π为圆周率，L()为郎之万方程，k为波尔兹曼常数，T为开氏温度，ΔD为对磁纳米粒子直径进行离散化的步长，Z为离散点励磁磁场Hi的取样点数，N为离散粒径点Dj的取样点数；(4)若离散粒径点分布函数f(Dj)为非负数且没有虚假振荡，结束；否则，进入步骤(5)；(5)更新A(i，j)＝εI+A(i，j)′A(i，j)，M(Hi)＝A(i，j)′M(Hi)，A(i，j)′为矩阵A(i，j)的转置矩阵，I为单位矩阵，按照步骤(3)求解离散粒径点分布函数f(Dj)。