[发明专利]一种镜像式结构光视觉测量系统和测量方法无效

专利信息
申请号: 200810239084.9 申请日: 2008-12-08
公开(公告)号: CN101419061A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: 周富强;程骏超;李颖;张广军 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/03
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于测量技术领域,将提供一种镜像式结构光视觉测量系统和测量方法。本发明测量系统由结构光投射器1、反射镜2、3和4、摄像机6、底板7、计算机、图像采集卡、标定平面靶标8组成。本发明测量方法由结构光投射器投射结构光,经反射镜2、3、4反射后投射到被测物5表面,其反射光线经反射镜4反射后被摄像机6接收,所成图像由高速图像采集卡采集到计算机中,对采集图像进行处理,提取出结构光条中心线的图像坐标,根据测量模型,计算出物体表面点的三维坐标。本发明采用反射镜成像构成三角测量原理,减小了结构光投射器与摄像机间的横向间距,压缩了系统体积,实现了结构光视觉传感器的小型化。
搜索关键词: 一种 镜像式 结构 视觉 测量 系统 测量方法
【主权项】:
1、一种镜像式结构光视觉测量系统,其特征在于,1. 1、它由结构光视觉传感器[7]、计算机、图像采集卡和标定靶标[8]组成;结构光视觉传感器[7]由结构光投射器[1]、反射镜[2]、[3]和[4]以及摄像机[6]组成;图像采集卡安装在计算机内;被测物[5]在反射镜[4]反射光路方向上距离底板边缘5~20mm处;1. 2、结构光投射器[1]投射的结构光经反射镜[2]、[3]和[4]反射后投射到被测物[5]表面,其反射光线经反射镜[4]反射后被摄像机[6]接收;1. 3、所说的标定靶标[8]为一个二维平面,靶标上有预先设置的特征点,在靶标平面上布置成矩阵排列的黑色方块,黑色方块数量为4~16个,黑色方块的边长为2mm,其边长精度为0.01mm,黑色方块之间的距离2mm,其精度为0.01mm,选取靶面上方块的顶点为特征点,特征点数量为16~64个。
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