[发明专利]采用有源层图形化制备有机场效应晶体管的方法有效

专利信息
申请号: 200810240085.5 申请日: 2008-12-17
公开(公告)号: CN101752508A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 刘舸;刘明;刘兴华;商立伟;王宏;柳江 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L51/40 分类号: H01L51/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种采用有源层图形化制备有机场效应晶体管的方法,包括:在绝缘衬底上涂敷光刻胶;光刻得到栅电极图形;蒸发或沉积金属电极材料;用丙酮剥离不需要的金薄膜得到器件的栅电极图形;在栅电极上蒸发或沉积一层绝缘介质层材料;在绝缘介质层材料上匀胶后光刻得到器件源漏电极的图形;再次蒸发或沉积金属电极材料,剥离后得到器件的源漏电极图形;沉积生长有机半导体薄膜,完成有源层图形化的有机场效应晶体管的制备。利用本发明,对有源层的图形化工艺简单,没有增加光刻步骤,主要依靠栅介质的台阶特性实现器件隔离和有源层的图形化。另外,本方法也与成熟的光刻工艺兼容,降低了成本,有利于工业生产。
搜索关键词: 采用 有源 图形 制备 有机 场效应 晶体管 方法
【主权项】:
一种采用有源层图形化制备有机场效应晶体管的方法,其特征在于,该方法包括:步骤1、在绝缘衬底上涂敷光刻胶;步骤2、光刻得到栅电极图形;步骤3、蒸发或沉积金属电极材料;步骤4、用丙酮剥离不需要的金薄膜得到器件的栅电极图形;步骤5、在栅电极上蒸发或沉积一层绝缘介质层材料;步骤6、在绝缘介质层材料上匀胶后光刻得到器件源漏电极的图形;步骤7、再次蒸发或沉积金属电极材料,剥离后得到器件的源漏电极图形;步骤8、沉积生长有机半导体薄膜,完成有源层图形化的有机场效应晶体管的制备。
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