[发明专利]一种低噪声小像差全息光栅的记录方法有效

专利信息
申请号: 200810243775.6 申请日: 2008-12-15
公开(公告)号: CN101419426A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: 李朝明;吴建宏;陈新荣 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G03H1/04 分类号: G03H1/04
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 代理人: 陶海锋
地址: 215123江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种低噪声小像差全息光栅的记录方法,首先用两平面波制作参考光栅,随后利用两单透镜构建记录全息光栅的光路,借助于参考光栅,调节其中一支光路的星点位置以及透镜的转动,使两个单透镜间的像差相互补偿,实现记录小像差全息光栅的目的。该方法对参考光栅的基片面型无特殊要求,全息记录光路的结构简单,有效地减少了记录系统中的杂散光和鬼像,降低了光栅的噪声。
搜索关键词: 一种 噪声 小像差 全息 光栅 记录 方法
【主权项】:
1. 一种低噪声小像差全息光栅的记录方法,其特征在于:包括下列步骤:(1)制作参考光栅:采用全息记录的方法,利用两个小像差的平行光管记录参考光栅,并将参考光栅复位,每个所述平行光管由校正镜和单透镜组成;(2)将校正镜移去,并将记录光的星点放置在单透镜的焦点附近,使得两单透镜组成的记录光波组成互校像差的光场;(3)在参考光栅的再现光场中,观察由其中一个单透镜出射的光通过参考光栅的零级透射光与另一个单透镜出射的光通过参考光栅的衍射光形成的干涉条纹;(4)如干涉条纹发生弯曲或不等距,调节其中一个单透镜的转动方位和/或星点位置,使干涉条纹等距、平直;(5)取下参考光栅,放置待记录的光栅基片,并保持与原参考光栅基片的空间方位一致;(6)利用两个单透镜产生的两支光束形成的互校光场进行曝光,完成全息光栅的记录过程。
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