[发明专利]一种一维硅/二氧化硅光子晶体滤波器无效

专利信息
申请号: 200810244435.5 申请日: 2008-12-03
公开(公告)号: CN101431109A 公开(公告)日: 2009-05-13
发明(设计)人: 茆磊;叶宏 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: H01L31/0203 分类号: H01L31/0203;H01L31/04;G02B5/20;H02N6/00
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 代理人: 汪祥虬
地址: 230026*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种一维硅/二氧化硅光子晶体滤波器,特征在于:第1二氧化硅层厚度为195(1+Δ1)nm,第3二氧化硅层厚度为390(1+Δ1/2)nm,第9二氧化硅层厚度为390(1+Δ2/2)nm,第2硅层厚度为170(1+Δ1)nm,第10硅层厚度为170(1+Δ2)nm,其中Δ1和Δ2为数学小量,0.08≤Δ1≤0.12,0.06≤Δ2≤0.16。本发明提出的改进型一维硅/二氧化硅光子晶体滤波器解决了现有技术的一维硅/二氧化硅光子晶体滤波器在锑化镓电池特征波长附近对有效辐射光子的较强反射作用的问题,从而可提高热光伏系统的光谱效率20.1%-5.9%,可增加输出电功率密度14.8%-5.3%。
搜索关键词: 一种 一维硅 二氧化硅 光子 晶体滤波器
【主权项】:
1、一种一维硅/二氧化硅光子晶体滤波器,在光学基片上沉积共10层依次交替的硅层和二氧化硅层形成,第5和第7层二氧化硅的厚度分别为390nm,第4、6、8硅层厚度都为170nm,其特征在于:第1二氧化硅层厚度为195(1+Δ1)nm,第3二氧化硅层厚度为390(1+Δ1/2)nm,第9二氧化硅层厚度为390(1+Δ2/2)nm,第2硅层厚度为170(1+Δ1)nm,第10硅层厚度为170(1+Δ2)nm,其中Δ1和Δ2为数学小量,0.08≤Δ1≤0.12,0.06≤Δ2≤0.16。
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