[发明专利]一种一维硅/二氧化硅光子晶体滤波器无效
申请号: | 200810244435.5 | 申请日: | 2008-12-03 |
公开(公告)号: | CN101431109A | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 茆磊;叶宏 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | H01L31/0203 | 分类号: | H01L31/0203;H01L31/04;G02B5/20;H02N6/00 |
代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 | 代理人: | 汪祥虬 |
地址: | 230026*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种一维硅/二氧化硅光子晶体滤波器,特征在于:第1二氧化硅层厚度为195(1+Δ1)nm,第3二氧化硅层厚度为390(1+Δ1/2)nm,第9二氧化硅层厚度为390(1+Δ2/2)nm,第2硅层厚度为170(1+Δ1)nm,第10硅层厚度为170(1+Δ2)nm,其中Δ1和Δ2为数学小量,0.08≤Δ1≤0.12,0.06≤Δ2≤0.16。本发明提出的改进型一维硅/二氧化硅光子晶体滤波器解决了现有技术的一维硅/二氧化硅光子晶体滤波器在锑化镓电池特征波长附近对有效辐射光子的较强反射作用的问题,从而可提高热光伏系统的光谱效率20.1%-5.9%,可增加输出电功率密度14.8%-5.3%。 | ||
搜索关键词: | 一种 一维硅 二氧化硅 光子 晶体滤波器 | ||
【主权项】:
1、一种一维硅/二氧化硅光子晶体滤波器,在光学基片上沉积共10层依次交替的硅层和二氧化硅层形成,第5和第7层二氧化硅的厚度分别为390nm,第4、6、8硅层厚度都为170nm,其特征在于:第1二氧化硅层厚度为195(1+Δ1)nm,第3二氧化硅层厚度为390(1+Δ1/2)nm,第9二氧化硅层厚度为390(1+Δ2/2)nm,第2硅层厚度为170(1+Δ1)nm,第10硅层厚度为170(1+Δ2)nm,其中Δ1和Δ2为数学小量,0.08≤Δ1≤0.12,0.06≤Δ2≤0.16。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的