[发明专利]基于FPGA的印刷电路板粗缺陷图像检测方法无效
| 申请号： | 200810300131.6 | 申请日： | 2008-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN101216438A | 公开（公告）日： | 2008-07-09 |
| 发明（设计）人： | 姚立新;付纯鹤;张云;连军莉;邴守东;魏祥英 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十五研究所 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京中建联合知识产权代理事务所 | 代理人： | 朱丽岩 |
| 地址： | 744000甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于FPGA的印刷电路板粗缺陷图像检测方法，应用现场可编程门阵列采集卡，先将预处理过的模板图像数据和扫描待检印刷电路板图像数据进行同比例的信息抽取；对抽取后的两图像数据进行比较，找出差异，对差异图像数据和模板图像数据进行二值形态操作的腐蚀，并进行网格划分，将图像数据上细微的特征去掉，保留较大的特征；以网格为单位，统计每个网格中前景像素的个数，分别输出大于模板图像数据、等于模板图像数据和小于模板图像数据的数据流；输出的结果确定需要的特征及其坐标，还原大特征的原始坐标，确定检测印刷电路板大缺陷特征和坐标。可以实时快速检测到印刷电路板的大缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga 印刷 电路板 缺陷 图像 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于FPGA的印刷电路板粗缺陷图像检测方法，应用光学取像、成像装置和图像数据分析处理系统，图像数据分析处理系统应用现场可编程门阵列采集卡，其特征在于：(1)、将预处理过的模板图像数据和扫描待检印刷电路板图像数据进行同比例的信息抽取；(2)、对抽取后的两图像数据进行比较，找出两个图像数据之间的差异，同步输出模板图像数据和差异图像数据，差异图像数据包括丢失图像数据和多余图像数据；(3)、对差异图像数据和模板图像数据进行二值形态操作的腐蚀；(4)、对差异图像数据和模板图像数据进行网格划分，将图像数据上细微的特征去掉，保留较大的特征；(5)、以网格为单位，统计每个网格中前景像素的个数，并比较差异图像数据和模板图像数据中相应网格内经过线性变换之后的前景像素数据，分别输出大于模板图像数据、等于模板图像数据和小于模板图像数据的数据流；(6)、输出的结果确定需要的特征及其坐标，小于模板图像数据的数据流是可以忽视的特征，还原大特征的原始坐标，并送到报告收集器中；(7)、作出印刷电路板大缺陷图像检测报告，确定检测印刷电路板大缺陷特征和坐标
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十五研究所，未经中国电子科技集团公司第四十五研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810300131.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
