[发明专利]粒子统计方法及装置无效
| 申请号： | 200810300432.9 | 申请日： | 2008-02-29 |
| 公开（公告）号： | CN101520401A | 公开（公告）日： | 2009-09-02 |
| 发明（设计）人： | 唐佩忠 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10;G06T7/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种粒子统计方法，包括如下步骤：获取粒子图像；至少进行一次粒子图像的缩/放处理；计算缩/放前后至少两幅粒子图像中粒子的总面积；根据所述至少两个粒子总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量，以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。通过上述粒子统计方法计算粒子数量时，无需识别图像中的独立的粒子，也不需要计算粒子的直径或者长宽等参数，仅利用以此图像的缩/放就能够得准确的粒子数量，使得统计速度大大提高。本发明还提供一种粒子统计装置。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 统计 方法 装置 | ||
【主权项】：
【权利要求1】一种粒子统计方法，包括如下步骤：获取粒子图像；至少进行一次粒子图像的缩/放处理；计算缩/放前后至少两幅粒子图像中粒子的总面积；根据所述至少两个粒子总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量，以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。
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