[实用新型]待测物体共平面度的检测治具无效
| 申请号： | 200820007622.7 | 申请日： | 2008-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN201184787Y | 公开（公告）日： | 2009-01-21 |
| 发明（设计）人： | 许华山 | 申请（专利权）人： | 洋亨企业有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;G01B11/14 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 戈泊 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种待测物体共平面度的检测治具，包含一量测台、一发光源及一导光件。所述量测台呈中空且不透光，并包括一呈环绕的量测内周面，及一形成于所述量测台顶缘并供一待测物体放置的基准平面。量测内周面界定出一容室，发光源设置于量测台，并能发出光线穿过所述容室。导光件设置于量测台，并位于所述容室顶端，且供待测物体盖置其外。借此达到以光学方式来测试待测物体的共平面度，减少检测所需人力及提升良率的功效。 | ||
| 搜索关键词： | 物体 平面 检测 | ||
【主权项】：
1、一种待测物体共平面度的检测治具，适用于检测一待测物体的共平面度；其特征在于，包含：一个中空且不透光的量测台，所述量测台包括一呈环绕的量测内周面，及一形成于所述量测台顶缘并供所述待测物体放置的基准平面，所述量测内周面界定出一容室；一个发光源，设置于所述量测台，并能发出光线穿过所述容室；及一个导光件，设置于所述量测台，并位于所述容室顶端，且供所述待测物体盖置其外，所述导光件将所述发光源所发出的光散射至所述待测物体与所述基准平面的交界处。
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