[实用新型]一种半导体器件封装结构无效
申请号: | 200820017832.4 | 申请日: | 2008-02-02 |
公开(公告)号: | CN201167090Y | 公开(公告)日: | 2008-12-17 |
发明(设计)人: | 孟博;苏云荣 | 申请(专利权)人: | 济南晶恒有限责任公司 |
主分类号: | H01L23/495 | 分类号: | H01L23/495;H01L23/31;H01L23/367 |
代理公司: | 济南泉城专利商标事务所 | 代理人: | 李桂存 |
地址: | 250014山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种半导体器件封装结构,尤其是涉及一种小型半导体器件的封装结构。其包括引线框架和与其电性连接的晶片,以及一体式结构的封装壳体。所述晶片夹在所述引线框架之间,其中位于晶片下面的引线框架的下表面暴露于所述封装壳体外面。本实用新型结构紧凑,制造成本低,散热效果好,有效提高了单位功率密度。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 封装 结构 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件封装结构,包括引线框架(1、5)和与其电性连接的晶片(3),以及一体式结构的封装壳体(2),其特征在于:所述晶片(3)夹在所述引线框架(1、5)之间,其中引线框架(5)的下表面暴露于所述封装壳体(2)外面。
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