[实用新型]一种物料成分测量装置

摘要

一种物料成分测量装置，包括壳体1，光源2，滤光装置3、角镜4、反射镜5以及探测器6；壳体1内设置有支架7，所述壳体1包括入射口8和出射口9，角镜4和反射镜5分别通过第一镜座10和第二镜座11固定于支架7上，滤光装置3位于光源光路上，并位于入射口8和角镜4之间，光源光路通过入射口8射入经过角镜4反射后，由出射口9射出，光源2通过光源座14固定散热光源壳体13上；支架7上还设置有半导体制冷器件15，半导体制冷器件15紧贴壳体1。本实用新型解决了背景技术中探测器工作微环境温度高，制冷效果差，测量精度低的技术问题。具有散热性好、结构简单、安装调试方便、不受测量距离变化的影响的优点。

主权项

1.一种物料成分测量装置，包括壳体(1)，光源(2)，设置于壳体(1)内的滤光装置(3)、角镜(4)、具有汇聚性能的反射镜(5)以及探测器(6)；所述壳体(1)内设置有支架(7)，所述壳体(1)包括入射口(8)和出射口(9)，所述角镜(4)和反射镜(5)分别通过第一镜座(10)和第二镜座(11)固定于支架(7)上，所述滤光装置(3)位于光源光路上，并位于入射口(8)和角镜(4)之间，光源光路通过入射口(8)射入经过角镜(4)反射后，由出射口(9)射出，所述探测器(6)位于反射镜(5)的焦点，并通过支座(12)固定于支架(7)上，其特征在于：所述光源(2)位于壳体(1)外侧，并具有独立的散热光源壳体(13)，所述光源(2)通过光源座(14)固定散热光源壳体(13)上；所述支架(7)上还设置有半导体制冷器件(15)，所述半导体制冷器件(15)紧贴壳体(1)。