[实用新型]半导体制冷性能实验装置无效
| 申请号： | 200820039267.1 | 申请日： | 2008-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN201266139Y | 公开（公告）日： | 2009-07-01 |
| 发明（设计）人： | 王铁军;李彦军 | 申请（专利权）人： | 合肥工业大学 |
| 主分类号： | G01M19/00 | 分类号： | G01M19/00;G09B25/02 |
| 代理公司： | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 | 代理人： | 何梅生 |
| 地址： | 230009*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 半导体制冷性能实验装置，其特征是半导体热堆的冷端吸热器置于封闭的冷箱中，热端置于冷却水箱，冷却水箱中通入有循环冷却水；以直流稳压电源为半导体热堆提供工作电压，在半导体热堆的电源回路中设置电压表V和电流表A，并在冷箱中设置热电偶构成的测量系统；由PLC可编程控制器和MOS开关管构成控制电路，以热电偶为控制电路的信号检测器件，以MOS开关管为控制电路的执行器件；计算机通过RS232端口与PLC可编程控制器连接，分别采集系统中的检测数据和设定数据。本实用新型能满足不同工况半导体制冷性能测试、研究和教学实验的需要。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 制冷 性能 实验 装置 | ||
【主权项】：
1、一种半导体制冷性能实验装置，其特征是具有：一半导体热堆(7)，所述半导体热堆的冷端吸热器(11)置于封闭的冷箱(8)中，热端置于冷却水箱(6)，冷却水箱(6)中通入有循环冷却水；一直流稳压电源，以所述直流稳压电源(3)为半导体热堆(7)提供工作电压，在所述半导体热堆(7)的电源回路中设置电压表V和电流表A，并在所述冷箱(8)中设置热电偶(10)构成的测量系统；一控制电路，由PLC可编程控制器(14)和MOS开关管(13)构成，以所述热电偶(10)为控制电路的信号检测器件，以所述MOS开关管(13)为控制电路的执行器件；一计算机(15)，所述计算机(15)通过RS232端口与PLC可编程控制器(14)连接，分别采集系统中的检测数据和设定数据。
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