[实用新型]晶片检测装置无效
申请号: | 200820041142.2 | 申请日: | 2008-07-30 |
公开(公告)号: | CN201237494Y | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 任先林;宋秦川 | 申请(专利权)人: | 常州松晶电子有限公司 |
主分类号: | G01B5/24 | 分类号: | G01B5/24 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 | 代理人: | 何学成 |
地址: | 213127江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种检测装置,特别涉及一种晶片检测装置。晶片定位平板上设有连接大度轮的安装孔,所述晶片定位平板为耐磨的氧化锆陶瓷平板,晶片定位平板上设有多个吸气孔。本实用新型能够避免晶片遭受磨损,并且还便于放置晶片,以及能使晶片紧贴于平板上的优点。 | ||
搜索关键词: | 晶片 检测 装置 | ||
【主权项】:
1. 一种晶片检测装置,晶片定位平板上设有连接大度轮的安装孔,其特征在于:所述晶片定位平板为耐磨的氧化锆陶瓷平板,晶片定位平板上设有多个吸气孔。
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