[实用新型]一种通过镀金键合铜丝连接的半导体封装件无效

专利信息
申请号: 200820048316.8 申请日: 2008-05-21
公开(公告)号: CN201213132Y 公开(公告)日: 2009-03-25
发明(设计)人: 袁毅 申请(专利权)人: 袁毅
主分类号: H01L23/49 分类号: H01L23/49;H01L23/488;H01L23/495
代理公司: 中山市科创专利代理有限公司 代理人: 尹文涛
地址: 528400广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种通过镀金键合铜丝连接的半导体封装件,包括引线框架,在引线框架上设有芯片衬垫,在芯片衬垫上设有导电粘胶,在导电粘胶上固定有至少一块半导体芯片;在引线框架、半导体芯片、芯片衬垫外部有塑封模压复合体密封,在半导体芯片与引线框架之间连接有镀金键合铜丝,该镀金键合铜丝由铜丝和包覆于铜丝外部的金层组成。本实用新型具有不容易被氧化、可在保护下进行键合、接口结合力高等优点。
搜索关键词: 一种 通过 镀金 铜丝 连接 半导体 封装
【主权项】:
1、一种通过镀金键合铜丝连接的半导体封装件,包括引线框架(1),在引线框架(1)上设有芯片衬垫(3),在芯片衬垫(3)上设有导电粘胶(4),在导电粘胶(4)上固定有至少一块半导体芯片(2);在引线框架(1)、半导体芯片(2)、芯片衬垫(3)外部有塑封模压复合体(6)密封,其特征在于,在半导体芯片(2)与引线框架(1)之间连接有镀金键合铜丝(5),该镀金键合铜丝(5)由铜丝(51)和包覆于铜丝(51)外部的金层(52)组成。
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