[实用新型]法珀干涉仪频率稳定性的测量装置有效

专利信息
申请号: 200820057335.7 申请日: 2008-04-16
公开(公告)号: CN201191235Y 公开(公告)日: 2009-02-04
发明(设计)人: 孙旭涛;刘继桥;周军;陈卫标 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01M11/00;G01J9/00;G02F1/03
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种法珀干涉仪频率稳定性的测量装置,由第一激光器、第一分束片、电光相位调制器、第一透镜、第二透镜、第一偏振分束片、1/4波片、电光相位调制器驱动源、移相器、混频器、第一高速光电二极管、第二激光器、第二分束片、第三分束片、气体池、第二高速光电二极管、减法器、第一1/2波片、第二1/2波片、第三高速光电二极管、全反镜、第二偏振分束片、第四高速光电二极管、频率计、第一低通滤波器、第一放大器、第二低通滤波器和第二放大器组成,本实用新型具有测量稳定度高,测量结果准确的特点。
搜索关键词: 干涉仪 频率 稳定性 测量 装置
【主权项】:
1、一种法珀干涉仪频率稳定性的测量装置,其特征在于由第一激光器(1)、第一分束片(2)、电光相位调制器(3)、第一透镜(4)、第二透镜(5)、第一偏振分束片(6)、1/4波片(7)、电光相位调制器驱动源(9)、移相器(10)、混频器(11)、第一高速光电二极管(12)、第二激光器(13)、第二分束片(14)、第三分束片(15)、气体池(16)、第二高速光电二极管(17)、减法器(18)、第一1/2波片(19)、第二1/2波片(20)、第三高速光电二极管(21)、全反镜(22)、第二偏振分束片(23)、第四高速光电二极管(24)、频率计(25)、第一低通滤波器(26)、第一放大器(27)、第二低通滤波器(28)和第二放大器(29)组成,其位置关系是:第一激光器(1)输出的第一单频激光光束通过第一分束片(2)被分为透射光束和反射光束,该透射光束通过电光相位调制器(3)被相位调制,然后经过与光束垂直放置的第一透镜(4)、第二透镜(5),实现与待测法珀干涉仪(8)模式匹配,经与光束成45°放置的第一偏振分束片(6)后完全透射,然后垂直入射到1/4波片(7)和待测法珀干涉仪(8),经待测法珀干涉仪(8)反射的光信号经过1/4波片(7)后,偏振方向发生旋转,被第一偏振分束片(6)反射后入射到第一高速光电二极管(12),光信号转化为电信号后进入混频器(11),电光相位调制器驱动源(9)用来驱动电光相位调制器(3),其输出信号的一部分用做本振信号,该本振信号经移相器(10)移相后进入混频器(11)并与来自第一高速光电二极管(12)的电信号进行混频,由此产生的电信号作为鉴频信号,经第一低通滤波器(26)滤除高频信号后的直流信号经第一放大器(27)放大后反馈到第一激光器(1),将第一激光器(1)的频率锁定在待测的法珀干涉仪(8)的共振频率上;第二激光器(13)输出的第二单频光束的光轴上依次是第二分束片(14)、第三分束片(15)、气体池(16)和第二高速光电二极管(17),所述的第二分束片(14)将第二单频光束分成透射光束和反射光束两部分,该透射光束又被第三分束片(15)分为透射光束和反射光束两部分,该反射光束入射到第三高速光电二极管(21),用做差分,消除光强变化带来的影响,透射光束入射到气体池(16),气体池(16)的透射光强由第二高速光电二极管(17)探测,信号输入到减法器(18),该电信号减去第三高速光电二极管(21)的电信号,产生鉴频信号,经第二低通滤波器(28)低通滤波后的直流信号经第二放大器(29)放大后反馈到第二激光器(13)的压电陶瓷将第二激光器(13)的频率锁定在气体池(16)内的原子或分子对应的吸收谱线上;第一1/2波片(19)用于调整第一分束片(2)反射的第一单频激光的反射光束的偏振方向,全反镜(22)将该光束反射到与该光束反射成45°的第二偏振分束片(23),并完全透过,第二1/2波片(20)用于调整第二分束片(14)反射的第二单频激光束的反射光的偏振方向,使该光束被与该光束成45°放置的第二偏振分束片(23)完全反射,并与由全反镜(22)的反射光束共线,垂直入射到第四高速光电二极管(24)上,产生拍频信号,频率计(25)用来探测该拍频信号频率变化,即为待测法珀干涉仪(8)的频率变化,由此测得待测法珀干涉仪(8)的频率稳定性。
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