[实用新型]一种杂光测试装置无效
| 申请号： | 200820071665.1 | 申请日： | 2008-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN201173854Y | 公开（公告）日： | 2008-12-31 |
| 发明（设计）人： | 谷立山;王立朋;张晓辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01M11/00 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 | 代理人： | 赵炳仁 |
| 地址： | 130012吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种杂光测试装置，该杂光测试装置包括积分球，光源，目标板，准直物镜，可变光栏，探测器，调整架，四维移动机构；积分球上的可变光栏一侧安装准直物镜，并且积分球内的目标板、准直物镜、可变光栏、被测光学系统和探测器在同一光轴上顺序放置。积分球漫反射的发散光经过准直物镜转换成平行光束后，再经可变光栏调节光束孔径后照射到被测光学系统，可对任意焦距的有限远物距和无限远物距光学系统进行杂光测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种杂光测试装置，包括积分球，光源，目标板，准直物镜，可变光栏，探测器，调整架，四维移动机构，其特征在于还包括准直物镜(4)；积分球(1)上的可变光栏(5)一侧安装准直物镜(4)，并且积分球(1)内的目标板(3)、准直物镜(4)、可变光栏(5)、被测光学系统(6)和探测器(7)在同一光轴上顺序放置。
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