[实用新型]利用前向散射辐射检查物体的设备无效
| 申请号： | 200820080492.X | 申请日： | 2008-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN201222039Y | 公开（公告）日： | 2009-04-15 |
| 发明（设计）人： | 王学武;钟华强;李清华;王小兵 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;H05G1/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种利用前向散射辐射来检查物体的设备，包括：辐射源，产生高能射线；第一准直系统，使得辐射源可产生扇形的第一辐射，同时产生与第一辐射成预定角度的第二辐射；散射体，用于从所述第二辐射产生前向散射辐射；第二准直系统，让散射体产生的前向散射辐射以一点源形式向被检物体发射扇形束；第一探测器阵列，用于探测第一辐射穿透被检物体的第一穿透值；第二探测器阵列，用于探测前向散射辐射穿透被检物体的第二穿透值；以及与第一和第二探测器阵列相连的处理器，用于对第一和第二探测值进行处理，得到物体的材料属性。本实用新型可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查，也可用于生物学研究或医学检测。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 散射 辐射 检查 物体 设备 | ||
【主权项】：
1、一种利用前向散射辐射检查物体的设备，其特征在于包括：产生高能射线的辐射源；第一准直系统，使得辐射源可产生扇形的第一辐射，同时产生与第一辐射成预定角度的第二辐射；散射体，用于从所述第二辐射产生前向散射辐射；第二准直系统，让散射体产生的前向散射辐射以一点源形式向被检物体发射扇形束；第一探测器阵列，探测第一辐射穿透被检物体的第一穿透值；第二探测器阵列，探测前向散射辐射穿透被检物体的第二穿透值；以及与第一和第二探测器阵列相连的处理器，对第一和第二探测值进行处理，得到物体的材料属性。
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