[实用新型]光学检测模块无效
| 申请号： | 200820115987.1 | 申请日： | 2008-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN201233372Y | 公开（公告）日： | 2009-05-06 |
| 发明（设计）人： | 姜智杰 | 申请（专利权）人： | 晶彩科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/94;G01N21/958;G01N21/896 |
| 代理公司： | 北京泛诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 文 琦;杨本良 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种光学检测模块，至少包括：光源、透反射元件、反射元件以及影像感测组件，其中从光源所射出的光线穿透该透反射元件而到达平面待测物，使平面待测物反射影像光路至所述透反射元件，再经由所述透反射元件进一步反射至所述反射元件，再经由所述反射元件导引至影像感测组件。该光学检测模块可有效解决现有技术中拍摄影像的质量受限以及影像感测组件架设位置受限的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 模块 | ||
【主权项】：
1. 一种光学检测模块，用于对平面待测物进行光学取像，其特征在于，该光学检测模块包括：光源，该光源用以射出光线；透反射元件，该透反射元件设置于所述平面待测物与所述光源之间，且呈第一直线排列；反射元件，该反射元件离开该第一直线排列，并与所述透反射元件间隔固定距离；以及影像感测组件，该影像感测组件与所述反射元件呈第二直线排列，其中，从所述光源射出的光线透射穿过所述透反射元件到达所述平面待测物，使所述平面待测物反射一影像光路至所述透反射元件，再经由所述透反射元件将该影像光路反射至所述反射元件，再经由所述反射元件将该影像光路导引至所述影像感测组件。
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