[实用新型]电子元件的检测装置有效
申请号: | 200820119842.9 | 申请日: | 2008-05-30 |
公开(公告)号: | CN201225982Y | 公开(公告)日: | 2009-04-22 |
发明(设计)人: | 汪秉龙;陈桂标;陈信呈;周明澔 | 申请(专利权)人: | 久元电子股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01R31/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 潘培坤 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种电子元件的检测装置,其特征在于,包括:一第一透明转盘,其中所述电子元件连续供应以放置于该第一透明转盘上方;一第一影像撷取单元,其设置于该第一透明转盘下方以检测所述电子元件的底面;一第二转盘,其邻接于该第一透明转盘;一导引单元,其设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置,其中位于该第一透明转盘上的所述电子元件通过该导引单元导引转送至该第二转盘;以及多个第二影像撷取单元,其设置于该第二转盘上方以检测所述电子元件的其它外表面,由此利用第一透明转盘与第二转盘的搭配以提供较佳的检测装置。 | ||
搜索关键词: | 电子元件 检测 装置 | ||
【主权项】:
1、一种电子元件的检测装置,其用于检测多个电子元件的外表面,其特征在于,包括:一第一透明转盘,其中所述电子元件连续供应以放置于该第一透明转盘上方;一第一影像撷取单元,其设置于该第一透明转盘下方以检测所述电子元件的底面;一第二转盘,其邻接于该第一透明转盘;一导引单元,其设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置,其中位于该第一透明转盘上的所述电子元件通过该导引单元导引转送至该第二转盘;以及多个第二影像撷取单元,其设置于该第二转盘上方以检测所述电子元件的其它外表面。
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