[实用新型]电子元件的检测装置有效

专利信息
申请号: 200820119842.9 申请日: 2008-05-30
公开(公告)号: CN201225982Y 公开(公告)日: 2009-04-22
发明(设计)人: 汪秉龙;陈桂标;陈信呈;周明澔 申请(专利权)人: 久元电子股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01R31/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 潘培坤
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种电子元件的检测装置,其特征在于,包括:一第一透明转盘,其中所述电子元件连续供应以放置于该第一透明转盘上方;一第一影像撷取单元,其设置于该第一透明转盘下方以检测所述电子元件的底面;一第二转盘,其邻接于该第一透明转盘;一导引单元,其设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置,其中位于该第一透明转盘上的所述电子元件通过该导引单元导引转送至该第二转盘;以及多个第二影像撷取单元,其设置于该第二转盘上方以检测所述电子元件的其它外表面,由此利用第一透明转盘与第二转盘的搭配以提供较佳的检测装置。
搜索关键词: 电子元件 检测 装置
【主权项】:
1、一种电子元件的检测装置,其用于检测多个电子元件的外表面,其特征在于,包括:一第一透明转盘,其中所述电子元件连续供应以放置于该第一透明转盘上方;一第一影像撷取单元,其设置于该第一透明转盘下方以检测所述电子元件的底面;一第二转盘,其邻接于该第一透明转盘;一导引单元,其设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置,其中位于该第一透明转盘上的所述电子元件通过该导引单元导引转送至该第二转盘;以及多个第二影像撷取单元,其设置于该第二转盘上方以检测所述电子元件的其它外表面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于久元电子股份有限公司,未经久元电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200820119842.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top