[实用新型]一种小体积永磁体的外观检查装置有效

专利信息
申请号: 200820122879.7 申请日: 2008-10-13
公开(公告)号: CN201269856Y 公开(公告)日: 2009-07-08
发明(设计)人: 张来树;赵玉刚;郄永峰;刘刚;王志伟;陈明;丁海峰 申请(专利权)人: 三环瓦克华(北京)磁性器件有限公司;北京中科三环高技术股份有限公司
主分类号: G01N21/89 分类号: G01N21/89
代理公司: 北京王景林知识产权代理事务所 代理人: 王景林;梁 洁
地址: 102200北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种小体积永磁体的外观检查装置,其特征在于,该外观检查装置包括:振动排列装置,其将一系列小体积钕铁硼磁体形成规则排列;输送装置,其将规则排列的一系列小体积钕铁硼磁体向合格良品承装容器进行输送;识别装置,其获得小体积钕铁硼磁体的图像,并且进行放大;监视器,其将放大的小体积钕铁硼磁体图像显示在显示器上;剔出装置,其将具有外观瑕疵的小体积钕铁硼磁体从输送装置上作为废品剔出至不良品承装容器。根据本实用新型的小体积永磁体的外观检查装置,有利于操作者的用眼卫生保健、工作效率高、而且可大大降低废品检出遗漏的现象。
搜索关键词: 一种 体积 永磁体 外观 检查 装置
【主权项】:
1. 一种小体积永磁体的外观检查装置,其特征在于,该外观检查装置包括:振动排列装置,其将一系列小体积钕铁硼磁体形成规则排列;输送装置,其将规则排列的一系列小体积钕铁硼磁体向合格良品承装容器进行输送;识别装置,其获得小体积钕铁硼磁体的图像,并且进行放大;监视器,其将放大的小体积钕铁硼磁体图像显示在显示器上;和剔出装置,其将具有外观瑕疵的小体积钕铁硼磁体从输送装置上作为废品剔出至不良品承装容器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三环瓦克华(北京)磁性器件有限公司;北京中科三环高技术股份有限公司,未经三环瓦克华(北京)磁性器件有限公司;北京中科三环高技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200820122879.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top