[实用新型]一种用于锗晶体平面电阻率测量的固定装置无效
| 申请号： | 200820124149.0 | 申请日： | 2008-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN201302593Y | 公开（公告）日： | 2009-09-02 |
| 发明（设计）人： | 杨海;杨鹏;王学武;冯誉耀 | 申请（专利权）人： | 北京有色金属研究总院;北京国晶辉红外光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R1/00 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 | 代理人： | 童晓琳 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了属于材料测试设备技术领域的一种用于锗晶体平面电阻率测量的固定装置。导轨固定在底座上，轴承安装在导轨上，且沿导轨滑动，底板固定在轴承上，设置4个立臂，立臂通过压环固定在底板上，立臂在底板上沿压环旋转，每个立臂上端都有横臂，横臂自由移动，且由上盖固定在立臂上，横臂的前端设置触头，触头带有倾角，触头上固定胶皮垫，探针在底座的竖直杆上上下移动。本实用新型可使晶体头尾可安全地固定住，提高测试精度，降低探针的损耗程度，适用于不同尺寸的锗晶体头尾的固定，可固定直径大于10mm的任何锥角的晶体头尾，操作简单，方便实用，测试精度高，固定后的晶体可随意移动、转动，便于测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 晶体 平面 电阻率 测量 固定 装置 | ||
【主权项】：
1、一种用于锗晶体平面电阻率测量的固定装置，其特征在于，导轨(2)固定在底座(1)上，轴承(3)安装在导轨(2)上，且沿导轨(2)滑动，底板(4)固定在轴承(3)上，设置4个立臂(6)，立臂(6)通过压环(5)固定在底板(4)上，立臂(6)在底板(4)上沿压环(5)旋转，每个立臂上端都有横臂(7)，横臂(7)自由移动，且由上盖(8)固定在立臂(6)上，横臂(7)的前端设置触头(9)，触头(9)通过紧固螺丝(10)固定在横臂(7)的前端，触头(9)带有倾角，触头(9)上固定胶皮垫，探针(11)在底座(1)的竖直杆上上下移动。
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