[实用新型]印刷电路板测试治具改良结构

摘要

本实用新型有关一种印刷电路板测试治具改良结构，其主要由数片测试板所构成，各测试板并设有穿孔以容置依据待测电路板待测接点设置的测试针，各测试针两端凸伸出治具，其在待测电路板端，为与待测电路板的待测接点接触的接触端，而在针床端，则为与针床的弹簧针接触的接触端，各测试针并依据待测接点具有适当的斜率，该针床端的测试板穿孔外缘具有容设测试针定位部的定位孔，且该定位孔深度依据所容置测试针的斜率大小而定，使待测电路板端的测试针具有相同出针长度，具有提高测试治具的稳定性，避免误判的效果。

主权项

1、一种印刷电路板测试治具改良结构，其包括数片测试板，该各测试板并设有穿孔，该穿孔容置依据待测电路板的待测接点设置的测试针，该各测试针两端凸伸出该治具，该各测试针在待测电路板端，为与该待测电路板的待测接点接触的接触端，而在针床端，则为与该针床的弹簧针接触的接触端，该各测试针并依据该待测接点具有适当的斜率，其特征在于，该各测试针具有定位部，该针床端的测试板穿孔外缘具有容设该测试针定位部的定位孔，且该定位孔深度依据所容置测试针的斜率大小而定，且在该待测电路板端的该测试针具有相同出针长度。