[实用新型]一种晶体测量夹具无效

专利信息
申请号: 200820130220.6 申请日: 2008-12-10
公开(公告)号: CN201307127Y 公开(公告)日: 2009-09-09
发明(设计)人: 张光信;杨立新 申请(专利权)人: 北京康特电子股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 北京邦信阳专利商标代理有限公司 代理人: 王昭林;崔 华
地址: 101318北京市顺义*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种晶体测量夹具,其包括夹具本体以及可在所述夹具本体上平滑移动的第一探针和第二探针,该晶体测量夹具还包括第三探针,所述第三探针可在所述夹具本体的上下方向平滑移动,并且所述第三探针比第一探针和第二探针更加向下突出。本实用新型的有益效果是,在晶体测量过程中避免了打翻或弹出待测量的产品,不致造成抛料和浪费。
搜索关键词: 一种 晶体 测量 夹具
【主权项】:
1. 一种晶体测量夹具,其包括夹具本体以及可在所述夹具本体上平滑移动的第一探针和第二探针,其特征在于:该晶体测量夹具还包括第三探针,所述第三探针可在所述夹具本体的上下方向平滑移动,并且所述第三探针比第一探针和第二探针更加向下突出。
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