[实用新型]场校验装置有效
| 申请号： | 200820153380.2 | 申请日： | 2008-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN201269925Y | 公开（公告）日： | 2009-07-08 |
| 发明（设计）人： | 江建华;齐振生 | 申请（专利权）人： | 华东电力试验研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所 | 代理人： | 郑 玮 |
| 地址： | 200437*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及直流输变电设备和线路电磁环境领域，特别涉及一种场校验装置。公开了一种场校验装置，包括依次设置的一离子发生单元、一控制电场区和一校核电场区，所述离子发生单元用于产生离子，所述控制电场区用于控制所述离子电流大小，所述校验电场区用于产生可调节大小的直流静电场，所述离子产生的电场与所述直流静电场形成合成场强。本实用新型的有益效果：可以通过可控的进入校核电场区的离子电流和可控的校核电场区内的直流静电场来观察离子产生的电场或直流静电场对被校验仪器进行校验，并且有助于开展被校验仪器在不同状态下校验结果的比对试验研究。 | ||
| 搜索关键词： | 校验 装置 | ||
【主权项】：
1、一种场校验装置，其特征在于：包括依次设置的一离子发生单元、一控制电场区和一校核电场区，所述离子发生单元用于产生离子，所述控制电场区用于控制离子电流大小，所述校验电场区用于产生可调节大小的直流静电场，所述离子产生的电场与所述直流静电场形成合成场强。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东电力试验研究院有限公司，未经华东电力试验研究院有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200820153380.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：发光钟表
- 下一篇：测试电路板的装置及数据处理系统
