[实用新型]大型外径千分尺平行度光学检定仪有效

专利信息
申请号: 200820219691.4 申请日: 2008-11-20
公开(公告)号: CN201293619Y 公开(公告)日: 2009-08-19
发明(设计)人: 穆涛 申请(专利权)人: 穆涛
主分类号: G01B3/18 分类号: G01B3/18;G01B11/26;G01B11/27
代理公司: 锦州辽西专利事务所 代理人: 葛春波
地址: 121000辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种大型外径千分尺平行度光学检定仪,解决了现有的大型外经千分尺平行检定过程操作程序复杂,工作效率低,调节速度慢,精度低;对测头平面产生磨损,影响千分尺的精确度;而且还易受测量力、热传导、磁性因素的影响,造成检定结果不够准确的问题。它在在测量平台上安装有平行棱镜组合体,在测量平台上位于平行棱镜组合体斜上方安装有自准直光管,在自准直光管上设有光源。优点是:调节速度快,操作方便,工作效率高,精度高,性能稳定。
搜索关键词: 大型 外径 千分尺 平行 光学 检定
【主权项】:
1、一种大型外径千分尺平行度光学检定仪,包括一个测量平台(1),其特征是:在测量平台(1)上安装有平行棱镜组合体(4),在测量平台(1)上位于平行棱镜组合体(4)斜上方安装有自准直光管(6),在自准直光管(6)上设有光源(11)。
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