[发明专利]光学信息记录介质的信号记录条件调整方法、信息记录重放装置无效

专利信息
申请号: 200880000788.9 申请日: 2008-07-15
公开(公告)号: CN101548321A 公开(公告)日: 2009-09-30
发明(设计)人: 中野正规;小川雅嗣;中村胜 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: G11B7/0045 分类号: G11B7/0045;G11B7/125
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙志湧;李 亚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种光学信息记录介质的信号记录条件调整方法包括试记录步骤、质量测定步骤、选择参数候补值的步骤、生成多个参数值的组合的步骤、重复步骤、选择最佳值的步骤。在试记录步骤中,根据包括可调整的多个参数的记录策略,变更第1参数的值,并且在光学信息记录介质上照射激光,试记录模式序列。在测定步骤中,与第1参数的各值对应地测定信号质量值。在选择参数候补值的步骤中,从中选择多个参数候补值,在生成多个参数值的组合的步骤中,第1参数的值被多个参数候补值置换并固定,选择第2参数作为变更值的参数。在重复步骤中,对多个参数分别重复这些步骤,之后在选择最佳值的步骤中,选择重放信号波形和基准重放波形的误差的方差值最小的参数候补值的组合。
搜索关键词: 光学 信息 记录 介质 信号 条件 调整 方法 重放 装置
【主权项】:
1. 一种光学信息记录介质的信号记录条件调整方法,其特征在于,包括以下步骤:试记录步骤,根据包括可调整的多个参数的记录策略,变更上述多个参数中的第1参数的值,并且在光学信息记录介质上照射调制了强度的激光,试记录具有标记部及空间部的模式序列;测定步骤,重放试记录的上述模式序列,与上述第1参数的各值对应地测定表示重放信号质量的信号质量值;选择参数候补值的步骤,根据上述信号质量值,从上述第1参数的各值中选择参数候补值;生成多个参数值的组合的步骤,将上述第1参数的值置换为所选择的上述参数候补值,选择上述多个参数中的第2参数作为进行控制的参数,生成多个参数值的组合;重复步骤,重复进行上述试记录步骤、上述测定步骤、上述选择参数候补值的步骤、上述生成多个参数值的组合的步骤;以及最佳值选择步骤,在进行上述重复之后,选择重放了上述模式序列的重放信号波形与根据上述模式序列计算出的基准重放波形的误差的方差值最小的上述参数候补值的组合,作为最佳值。
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