[发明专利]用于评估表面的清洁度的装置和方法无效

专利信息
申请号: 200880000873.5 申请日: 2008-02-19
公开(公告)号: CN101548174A 公开(公告)日: 2009-09-30
发明(设计)人: 城田幸司;本田穣;森重洁;东昇 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社;仓敷纺织株式会社
主分类号: G01N21/35 分类号: G01N21/35;G01N21/94
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 张建涛;车 文
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 装置1包括泛光灯单元20、接收器单元30以及处理单元40。泛光灯单元20将红外光施加到工件50的表面,并且包括面光源21和聚焦透镜23。接收器单元30接收从工件50的表面反射的红外光,并且包括接收器传感器31和滤光器33,该滤光器33透过具有该表面上的污染物51吸收的波长的红外光。处理单元40根据从该表面反射的红外光的吸光度来评估工件50的表面的清洁度。并且将来自该表面的反射红外光的接收区域Rb设定为小于施加到该表面的红外光的施加区域Ra。
搜索关键词: 用于 评估 表面 清洁 装置 方法
【主权项】:
1. 一种用于评估工件表面的清洁度的装置,包括:泛光灯单元,该泛光灯单元具有面光源和透镜,所述面光源将红外光施加到所述表面,并且所述透镜聚焦所述红外光;接收器单元,该接收器单元用于检测从所述表面反射的光,并具有滤光器和接收器,所述滤光器透过具有所述表面上的污染物吸收的波长的红外光,并且所述接收器接收从所述表面反射的所述红外光,其中将从所述表面反射的所述红外光的接收区域设定为小于从所述泛光灯单元施加到所述表面的所述红外光的施加区域;以及处理单元,该处理单元用于通过利用从所述表面反射的所述红外光来计算所述表面处的所述红外光的吸光度,并且用于通过利用所述吸光度以及所述表面上的附着污染物的量和所述吸光度之间的预定关系来评估所述表面的清洁度。
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