[发明专利]半导体装置及其制造方法无效
申请号: | 200880001355.5 | 申请日: | 2008-01-08 |
公开(公告)号: | CN101568999A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
发明(设计)人: | 田上政由;林喜宏;多田宗弘;小野寺贵弘;古武直也;植木诚;天野真理 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | H01L21/3205 | 分类号: | H01L21/3205;H01L23/52;H01L21/768 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 孙志湧;李 亚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种具有多层布线的半导体装置,该多层布线具有在绝缘膜中的预定区域形成的铜布线膜、衬层膜和高熔点金属膜。铜布线膜是多晶,构成多晶的晶粒中占据单位布线表面的40%以上面积的晶粒在基板厚度方向上向(111)方位取向,并具有与贵金属衬层膜的结晶匹配性。在高熔点金属膜是Ti,贵金属衬层膜是钌膜时,高熔点金属的钛固溶在钌中成为贵金属衬层,形成兼具抗铜扩散性和铜结晶匹配性的铜布线。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种具有多层布线的半导体装置,该多层布线具有:在半导体基板的上方形成的绝缘膜;在该绝缘膜中的预定区域形成且以铜为主要成分的布线膜;和与该布线膜接触的衬层膜,所述布线膜构成多层布线的至少一层,所述半导体装置的特征在于,所述以铜为主要成分的布线膜是含有在基板厚度方向上向(111)方位取向的晶粒的多晶膜,并且所述衬层膜由在常温常压下具有抗氧化性的贵金属膜构成,且以使最密堆积排列面成为表面的方式取向。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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