[发明专利]半导体装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200880001355.5 申请日: 2008-01-08
公开(公告)号: CN101568999A 公开(公告)日: 2009-10-28
发明(设计)人: 田上政由;林喜宏;多田宗弘;小野寺贵弘;古武直也;植木诚;天野真理 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: H01L21/3205 分类号: H01L21/3205;H01L23/52;H01L21/768
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙志湧;李 亚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种具有多层布线的半导体装置,该多层布线具有在绝缘膜中的预定区域形成的铜布线膜、衬层膜和高熔点金属膜。铜布线膜是多晶,构成多晶的晶粒中占据单位布线表面的40%以上面积的晶粒在基板厚度方向上向(111)方位取向,并具有与贵金属衬层膜的结晶匹配性。在高熔点金属膜是Ti,贵金属衬层膜是钌膜时,高熔点金属的钛固溶在钌中成为贵金属衬层,形成兼具抗铜扩散性和铜结晶匹配性的铜布线。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种具有多层布线的半导体装置,该多层布线具有:在半导体基板的上方形成的绝缘膜;在该绝缘膜中的预定区域形成且以铜为主要成分的布线膜;和与该布线膜接触的衬层膜,所述布线膜构成多层布线的至少一层,所述半导体装置的特征在于,所述以铜为主要成分的布线膜是含有在基板厚度方向上向(111)方位取向的晶粒的多晶膜,并且所述衬层膜由在常温常压下具有抗氧化性的贵金属膜构成,且以使最密堆积排列面成为表面的方式取向。
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