[发明专利]超声波检查装置有效
| 申请号： | 200880001377.1 | 申请日： | 2008-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN101622534A | 公开（公告）日： | 2010-01-06 |
| 发明（设计）人： | 武石雅之;岛崎正则;由井正弘;平山智之 | 申请（专利权）人： | 三菱重工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N29/00 | 分类号： | G01N29/00;H04R23/00;G01N29/24 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李贵亮 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种超声波检查装置，其通过利用激光而谋求装置小型化，同时能够防止被检体劣化、变形，并且能够进行范围广泛的优良的检查。提供一种超声波检查装置(1)，具有激光装置(5)及体积检查用超声波发送部(17)，该激光装置(5)发射激光；该体积检查用超声波发送部(17)具有被照射该激光装置(5)所发射的激光而产生超声波C的发送振膜(39)，将该体积检查用超声波发送部(17)的发送振膜(39)产生的超声波(C)照射到被检体上进行检查。另外，提供一种进行混合检查的超声波检查装置(1)，其增加具备表面检查用超声波发送部(19)，以能够进行体积检查和表面检查这样性格不同的检查即混合检查。 | ||
| 搜索关键词： | 超声波 检查 装置 | ||
【主权项】：
1.一种超声波检查装置，其中，具有激光装置和超声波发送部，该激光装置发射激光；该超声波发送部具有被照射该激光装置所发射的激光而产生超声波的第一振膜，将该超声波发送部的该第一振膜产生的超声波照射到被检体而进行检查。
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