[发明专利]用于光谱分析的高级模式识别系统无效
| 申请号： | 200880002409.X | 申请日： | 2008-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN101632011A | 公开（公告）日： | 2010-01-20 |
| 发明（设计）人： | H·J·考尔菲尔德;大卫·L·弗兰克;詹姆·L·谢特尔 | 申请（专利权）人： | 创新美国科技有限公司;H·J·考尔菲尔德;大卫·L·弗兰克;詹姆·L·谢特尔 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01T1/161;G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京申翔知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周春发 |
| 地址： | 美国佛*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种快速、高精度地分析光谱数据的方法，包括用于模式识别的线性扫描(LINSCAN)方法和高级峰值检测方法。这些方法之一或者全部都用于支持检测和识别化学物质、生物物质、放射性物质、核物质和爆炸物。通过两种光谱分析方法，可分析多种目标的光谱。这两种方法可以结合起来进行双重验证，相对于单独采用其中一种方法，可获得更高的精确度，并减少误报和漏报。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光谱分析 高级 模式识别 系统 | ||
【主权项】：
1.一种平滑、重新采样和自适应曲线拟合到由某些更简单的曲线拟合操作所指出的各个初始峰值的方法，所述更简单的曲线拟合操作比如是将光谱与诸如高斯曲线或洛伦兹曲线之类已获峰值的函数进行卷积。
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