[发明专利]用于光学捕获和材料检查的全息显微系统和方法无效
| 申请号： | 200880003125.2 | 申请日： | 2008-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN101632134A | 公开（公告）日： | 2010-01-20 |
| 发明（设计）人： | 李相赫;D·G·格瑞尔 | 申请（专利权）人： | 纽约大学 |
| 主分类号： | G21K1/00 | 分类号： | G21K1/00;G02B21/32;G01B9/021 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 蒋世迅 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于进行光学捕获的结构的三维全息显微术的方法和系统。该方法和系统使用倒置光学显微镜，使用产生捕获激光束的激光光源，其中该激光束被物镜聚焦成多个光陷阱。该方法和系统还使用成像波长上的准直激光器，照明由光陷阱建立的结构。由光学捕获的结构散射的成像光形成全息图，该全息图由视频摄像机成像并用光学形式体系进行分析，以确定光场，再现3-D像，供分析和评估。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 捕获 材料 检查 全息 显微 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.在进行光学捕获的结构的3D全息显微术的方法中，包含的步骤有：提供光学显微镜；产生有输入到该倒置光学显微镜的相关联的成像波长的激光束；产生多个光陷阱，该改进包括使用有纯相位全息图的捕获激光束波前，该纯相位全息图对需要的光学捕获图形编码，且该捕获激光束有相关联的捕获波长；为该倒置光学显微镜提供物镜，该物镜用于投射该多个光陷阱及收集被捕获结构的同轴全息像两者；以及为该被捕获结构的三维全息显微术，向CCD摄像机提供该被捕获结构的像。
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