[发明专利]监视老化试验装置和监视老化试验方法无效
| 申请号： | 200880003971.4 | 申请日： | 2008-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN101601098A | 公开（公告）日： | 2009-12-09 |
| 发明（设计）人： | 前崎义博;勅使河原宽;小平幸彦;关口尚枝 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C11/406;G11C11/401;G11C29/08;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄纶伟 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供监视老化试验装置和监视老化试验方法。在监视老化试验装置(11)中，向需要刷新处理的多个元件(16)内一并写入数据。在写入后的元件(16)中实施刷新处理。保持了数据。在实施读出处理时，在读出处理对象的元件(16)中中止刷新处理。从中止后的元件(16)中读出数据。这样仅在读出处理对象的元件(16)中中止刷新处理，因而在读出处理对象以外的元件(16)中继续刷新处理。可靠地保持了数据。数据写入处理一次完成。可有效地实施监视老化试验。 | ||
| 搜索关键词： | 监视 老化 试验装置 老化试验 方法 | ||
【主权项】：
1.一种监视老化试验方法，其特征在于，该监视老化试验方法具有执行如下处理的工序：实施写入处理，以向需要刷新处理的作为试验对象的多个元件一并写入数据；在所述写入处理后的所述元件中实施刷新处理；以及在从所述元件选择的至少1个以上的所述元件中中止刷新处理，实施从该元件读出数据的读出处理。
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