[发明专利]基于阈值电压分布的动态检验有效
| 申请号： | 200880005137.9 | 申请日： | 2008-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN101689400A | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | 尼玛·穆赫莱斯 | 申请（专利权）人： | 桑迪士克股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/56 | 分类号： | G11C11/56;G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 刘国伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在擦除多个非易失性存储元件之后，执行软编程过程以使所述非易失性存储元件的擦除阈值分布紧密。在所述软编程过程期间，系统识别第一组的所述非易失性存储元件完成所述软编程所需的编程脉冲的数目及除最后一组之外的所有组的非易失性存储元件完成软编程所需的编程脉冲的数目。所述两个数目用于表征所述非易失性存储元件的所述阈值分布。所述阈值分布的此表征及所述编程脉冲的步长大小用来限制随后编程期间所使用的检验脉冲的数目。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 阈值 电压 分布 动态 检验 | ||
【主权项】：
1、一种用于操作非易失性存储器件的方法，其包括：对多个非易失性存储元件执行第一编程过程；及在所述第一编程过程后对所述非易失性存储元件执行第二编程过程，所述第二编程过程包含至少部分地基于所述第一编程过程的一组检验操作。
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