[发明专利]计算的断层摄影检查无效
| 申请号： | 200880005304.X | 申请日： | 2008-02-12 |
| 公开（公告）号： | CN101617246A | 公开（公告）日： | 2009-12-30 |
| 发明（设计）人： | J·-P·施洛姆卡 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/164 | 分类号： | G01T1/164;G01V5/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 龚海军;刘 红 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种方法，包括：探测来自x射线源的横贯检查区域和其中的物体的透射辐射和来自该物体中的放射性材料的发射辐射；生成指示所探测的辐射的信号；能量分解该探测的辐射；以及处理该能量分解的辐射以识别具有对应于放射性材料的能量的探测的辐射。 | ||
| 搜索关键词： | 计算 断层 摄影 检查 | ||
【主权项】：
1.一种方法，包括：探测来自x射线源(116)的横贯检查区域(108)和其中的物体的透射辐射和来自该物体中的放射性材料的发射辐射；生成指示所探测的辐射的信号；能量分解所探测的辐射；以及处理该能量分解的辐射以识别具有对应于所述发射辐射的能量的能量的探测的辐射。
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