[发明专利]采用耗尽模式GaN基FET的串叠电路有效

专利信息
申请号: 200880009064.0 申请日: 2008-03-20
公开(公告)号: CN101689570A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 迈克尔·墨菲 申请(专利权)人: 威洛克斯半导体公司
主分类号: H01L31/0256 分类号: H01L31/0256;H01L29/78
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙志湧;穆德骏
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种电路包括输入漏极节点、输入源极节点和输入栅极节点。该电路还包括III族氮化物耗尽模式FET,其具有源极、漏极和栅极,其中,耗尽模式FET的栅极联接到使耗尽模式FET保持在其导通状态的电势。另外,该电路还包括增强模式FET,其具有源极、漏极和栅极。耗尽模式FET的源极串联联接到增强模式FET的漏极。耗尽模式FET的漏极用作输入漏极节点,增强模式FET的源极用作输入源极节点,并且增强模式FET的栅极用作输入栅极节点。
搜索关键词: 采用 耗尽 模式 gan fet 电路
【主权项】:
1.一种电路,包括:输入漏极节点、输入源极节点和输入栅极节点;具有源极、漏极和栅极的III族氮化物耗尽模式FET,其中,所述耗尽模式FET的栅极联接到使所述耗尽模式FET保持在其导通状态的电势;具有源极、漏极和栅极的增强模式FET,其中,所述耗尽模式FET的所述源极串联联接到所述增强模式FET的所述漏极,并且其中,所述耗尽模式FET的所述漏极用作所述输入漏极节点,所述增强模式FET的所述源极用作所述输入源极节点,并且所述增强模式FET的所述栅极用作所述输入栅极节点。
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