[发明专利]采用耗尽模式GaN基FET的串叠电路有效
申请号: | 200880009064.0 | 申请日: | 2008-03-20 |
公开(公告)号: | CN101689570A | 公开(公告)日: | 2010-03-31 |
发明(设计)人: | 迈克尔·墨菲 | 申请(专利权)人: | 威洛克斯半导体公司 |
主分类号: | H01L31/0256 | 分类号: | H01L31/0256;H01L29/78 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 孙志湧;穆德骏 |
地址: | 美国新*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种电路包括输入漏极节点、输入源极节点和输入栅极节点。该电路还包括III族氮化物耗尽模式FET,其具有源极、漏极和栅极,其中,耗尽模式FET的栅极联接到使耗尽模式FET保持在其导通状态的电势。另外,该电路还包括增强模式FET,其具有源极、漏极和栅极。耗尽模式FET的源极串联联接到增强模式FET的漏极。耗尽模式FET的漏极用作输入漏极节点,增强模式FET的源极用作输入源极节点,并且增强模式FET的栅极用作输入栅极节点。 | ||
搜索关键词: | 采用 耗尽 模式 gan fet 电路 | ||
【主权项】:
1.一种电路,包括:输入漏极节点、输入源极节点和输入栅极节点;具有源极、漏极和栅极的III族氮化物耗尽模式FET,其中,所述耗尽模式FET的栅极联接到使所述耗尽模式FET保持在其导通状态的电势;具有源极、漏极和栅极的增强模式FET,其中,所述耗尽模式FET的所述源极串联联接到所述增强模式FET的所述漏极,并且其中,所述耗尽模式FET的所述漏极用作所述输入漏极节点,所述增强模式FET的所述源极用作所述输入源极节点,并且所述增强模式FET的所述栅极用作所述输入栅极节点。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的