[发明专利]旋转磁铁溅射装置有效
申请号: | 200880009416.2 | 申请日: | 2008-03-28 |
公开(公告)号: | CN101641458A | 公开(公告)日: | 2010-02-03 |
发明(设计)人: | 大见忠弘;后藤哲也;松冈孝明 | 申请(专利权)人: | 国立大学法人东北大学;东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 雒运朴;李 伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在旋转磁铁溅射装置中,为了减少因靶的消耗而引起靶表面发生变化,导致成膜率经时变化的情况,对靶的消耗变位量进行测定,根据测定结果,调整旋转磁铁组与靶之间的距离,从而长时间实现均匀的成膜率。作为测定靶的消耗变位量的机构,可以使用超声波传感器,也可以使用激光发送接收装置。 | ||
搜索关键词: | 旋转 磁铁 溅射 装置 | ||
【主权项】:
1.一种旋转磁铁溅射装置,具有:被成膜基板保持体、与被成膜基板对置设置的靶、和被设置在靶的与被处理基板相反侧的磁铁,通过由该磁铁在靶表面形成磁场,将等离子封闭在靶表面,其特征在于,所述磁铁包含:多个板磁铁被设在柱状旋转轴上的旋转磁铁组;和在旋转磁铁组的周边与靶面平行设置、且在与靶面垂直的方向磁化的固定外周板磁铁,通过使所述旋转磁铁组随着所述柱状旋转轴一同旋转,所述靶表面的磁场模式随着时间变动,该旋转磁铁溅射装置具有:测定所述靶的消耗量、即靶的消耗变位量的机构,具备通过使所述柱状旋转轴、所述旋转磁铁组、以及所述固定外周板磁铁从靶离开与该消耗变位量相等的距离,始终使靶表面与所述柱状旋转轴、所述旋转磁铁组、以及所述固定外周板磁铁的距离保持相等的功能。
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