[发明专利]基质浓度的测定方法及测定装置以及基质浓度测定用试剂有效
| 申请号： | 200880013181.4 | 申请日： | 2008-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN101802600A | 公开（公告）日： | 2010-08-11 |
| 发明（设计）人： | 镰田达夫;高木毅 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416;C12Q1/32 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李贵亮 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及以基质生成的过氧化氢的量为基础的测定基质浓度的方法、试剂和装置。本发明添加了用于抑制过氧化氢与阻碍物质反应的抑制剂。抑制剂可使用叠氮化钠之类的叠氮化合物及亚硝酸钠之类的亚硝酸化合物。本发明还可进一步添加氯化钠、氯化钾之类的支持电解质。 | ||
| 搜索关键词： | 基质 浓度 测定 方法 装置 以及 试剂 | ||
【主权项】：
一种基质浓度的测定方法，是基于自基质生成的过氧化氢的量来测定基质浓度的方法，其中，使用于抑制过氧化氢和阻碍物质反应的抑制剂共存。
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